優(yōu)學云測評推出中小學生快速提分方案

近期，優(yōu)學云測評系統(tǒng)針對中小學生學習成績問題推出“測—評—提”快速提分方案。該方案運用“閃測”技術，從全面掃描學生知識點，精準定位學生知識點漏洞開始，對學生進行學科分析、考試成績分析、學習軌跡分析等，最后依據科學的分析報告，學生可以進行針對性的學習，快速提升考試成績。同時老師也可將該方案應用于教學中，及時了解學生知識點掌握情況，調整教學安排。

“閃測”技術是基于梳理的知識點，學生通過自我評價的方式在有限的時間內迅速判斷出自己是否掌握某一知識點，后再與學生實際的掌握情況做出對比，快速查找學科上知識點漏洞的測評方法。該方法可以幫助學生精準定位知識點漏洞，幫助學生分析原因，從而制定出個性化的學習方案。